Malzeme Karakterizasyonunda Paralel Plaka Yöntemi ve Endüktans Ölçüm Yöntemi

Malzeme Karakterizasyonunda Paralel Plaka Yöntemi ve Endüktans Ölçüm Yöntemi

 

Paralel Plaka Yöntemi

Paralel plaka yöntemi, ince tabakaların veya sıvıların düşük frekansta ölçümlerinin gerçekleştirilebilmesi için doğruluğu yüksek bir yöntemdir. Üç terminal yöntemi olarak da adlandırılan paralel plaka yöntemi, kapasitör oluşturmak için iki elektrot arasına ince bir malzeme veya sıvı tabakasının yerleştirilmesiyle yapılır. Kapasitans (C) ve dağılım (D) vektör bileşenleri LCR metre veya empedans analizör aracılığıyla ölçülür. Bu değerler daha sonra geçirgenliği hesaplamak için kullanılır.

Şekil 1 : Paralel plaka yöntemi

 

Malzeme özellikleri

  • İnce, düz yüzeyli katı veya sıvı malzemeler

 

Yöntem özellikleri

  • Ölçüm yapılan fikstüre bağlı olarak 20 Hz’den 1 GHz’e frekans aralığı
  • Düşük frekanslar için doğruluğu yüksek yöntem
  • Geçirgenlik, kapasitans ve kayıp faktörünün basit bir şekilde hesaplanması
  • εr ölçümü

 

Paralel plaka yöntemi kullanılarak ölçüm yapabilmek için LCR metre veya empedans analizör, dielektrik test fikstürü ve εr sabitini hesaplayan yazılıma ihtiyaç duyulmaktadır. Keysight’ın 1 GHz'e kadar çalışan 16451B ve 16453A dielektrik test fikstürlerı mevcuttur. N1500A Materials Measurement Suite yazılımında paralel plaka yöntemi ölçüm paketi bulunmaktadır.

Endüktans Ölçüm Yöntemi

Endüktans ölçüm yöntemi, toroidal çekirdeklerin geçirgenliğini ölçmek için en iyi yöntemdir. Çekirdeğin etrafına sarılı telin uçlarındaki değerden endüktans ve bu endüktans ölçüm sonucundan da etkili geçirgenlik hesaplanır.

Malzeme özellikleri

  • Manyetik toroidal çekirdek yapısı

 

Yöntem özellikleri

  • 1 kHz’den 1 GHz’e düşük frekanslarda geniş frekans aralığı
  • Kolay kuruluma sahip düşük maliyetli çözüm
  • Düşük geçirgenliğe sahip manyetik malzemeler için en iyi yöntem
  • μr ölçümleri

 

Endüktans ölçüm yöntemi kullanılarak ölçüm yapabilmek için empedans analizör, test fikstürü ve μr sabitini hesaplayan yazılıma ihtiyaç duyulmaktadır. Keysight’ın 16454A manyetik malzeme test fikstürü mevcuttur. N1500A Materials Measurement Suite yazılımında endüktans ölçüm yöntemi ölçüm paketi bulunmaktadır.

Daha detaylı bilgi için Basics of Measuring the Dielectric Properties of Materials ve Six Dielectric Measurement Techniques For Materials Research uygulama notlarını inceleyebilirsiniz.

Şekil 2 : Endüktans ölçüm yöntemi

 

 
 
Yönetici | 29.05.2020 876 Görüntüleme
 

Yorumlar
 
Henüz yorum bulunmamaktadır. İlk yorumu sen yazabilirsin. Yorum yazmak için tıklayın
Etiketler
 
Bu Kategorideki Diğer Yazılar
Whatsapp Online Telefon Numarası