Genel olarak parametrik testler, dört ana tip yarı iletken cihazın elektriksel testini ve karakterizasyonunu içerir: dirençler, diyotlar, transistörler ve kapasitörler. Bu, parametrik testlerin diğer cihaz tiplerinin testini içermediğini söylemek değildir; ancak, parametrik test yapılarının büyük çoğunluğu bu kategorilerden birine sınıflandırılabilir veya bu kategorilerin bir kombinasyonu olarak kabul edilebilir.